高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。

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3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），全面确保操作人员人身安全，避免意外操作带来的辐射伤害

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分 析 范 围: 1PPM-99.99

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快速/坚固/可靠，超一流的分析工具，表现更出色！X射线荧光(XRF)分析是全世界认可的有效快速鉴定矿山中关键矿物质成分的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿人员和矿物质学家的首选工具。X-MET7000系列手持式分析仪提供坚固的现场分析，适用于恶

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用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。

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测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限（DL）ng/mL ＜0.01 ＜1.0 ＜0.05 ＜0.001 重复性（RSD） <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0

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X-MET7500手持式XRF分析仪

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